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半导体集成电路模拟锁相环测试方法的基本原理

标 准 号： GB/T 14031-1992
替代情况：
发布单位： 国家技术监督局
起草单位： 上海件五厂
发布日期： 1992-01-02
实施日期： 1993-08-01
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更新日期： 2025年09月04日
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内容摘要

本标准规定了半导体集成电路模拟锁相环电参数测试方法的基本原理。模拟锁相环与数字电路相同的静态和动态参数测试可参照GB3439《半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理》。

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