本文件主要内容包括半导体紫外发射二极管芯片的技术要求（芯片极限值、光电特性等）、试验条件、检验要求、质量评定程序、标志等，且还规定了芯片筛选、逐批和周期质量一致性检验要求，以及 A、B、C 组的划分及试验组成等内容。
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